| код УДК |
описание |
примечания |
| 539.21 |
Свойства твердого тела. Свойства молекулярных систем |
|
| 539.22 |
Изотропия и анизотропия в отношении структуры молекулярных систем. Упорядоченные структуры. Текстуры молекулярных систем и материалов главным образом синтетических |
см. 537.226.5 Изотропия и анизотропия (Электростатика) см. 548.735.6 Определение текстуры кристаллических агрегатов. Ориентация кристаллитов см. 552.122 Структура и текстура пород см. 620.18 Исследование структуры материалов |
| 539.23 |
Получение тонких слоев, тонких пленок |
см. 621.357.7 Гальваностегия. Гальванотехника см. 621.793 Нанесение металлических и неметаллических покрытий см. 621.794 Химическая обработка и отделка поверхностей |
| 539.24 |
Микрофотографические методы анализа микростуктуры твердого тела, субструктуры |
|
| 539.25 |
Анализ микроструктуры и свойств твердого тела при помощи ультрамикроскопа и электронного микроскопа |
см. 537.533.35 Электронная микроскопия см. 620.187 Электронно-микроскопические методы исследования см. 621.385.833 Электронные микроскопы см. 681.723.25 Ультрамикроскопы |
| 539.26 |
Ренгеноструктурный анализ. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции рентгеновских лучей |
см. 537.531 Электромагнитное излучение см. 543.422.8 Абсорбционный спектральный анализ с применением излучения различных длин волн см. 548.73 Рентгенографический анализ кристаллов. Рентгенографическое исследование структуры см. 620.179.152.1 Просвечивание рентгеновскими лучами см. 612.386 Рентгенотехника |
| 539.27 |
Электронография. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции электронов, нейтронов и протонов |
см. 548.74 Исследования кристаллов при помощи потока электронов и катодных лучей см. 620.179.153/.155 Просвечивание бета-лучами и нейтронами |
| |